Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €
Pošta 4.49 €
SPS 4.99 €
Kuriér GLS 3.99 €
Zberné miesto GLS 2.99 €
Packeta kurýr 4.99 €
Packeta 2.99 €
SPS Parcel Shop 2.99 €
Ako nakupovať
Pomoc
Doručenie
Pošta 4.49 €
SPS 4.99 €
Kuriér GLS 3.99 €
Zberné miesto GLS 2.99 €
Packeta kurýr 4.99 €
Packeta 2.99 €
SPS Parcel Shop 2.99 €
Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €
Nákupný poradca
Sme tu pre Vás!
02/210 210 99
Môj účet
Staňte sa súčasťou komunity milovníkov kníh z celého sveta a získajte hromadu výhod.
Založiť účet zdarma
▸
Prázdny :-(
0
Thermal Testing of Integrated Circuits
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Pevná
Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric sy...
Celý popis
Libristo kód: 08348631
?
304 b
304 b
121.11
€
Skladom u dodávateľa v malom množstve
Odosielame za 13-16 dní
30 dní na vrátenie tovaru
Mohlo by vás tiež zaujímať
/
Brožovaná
20.78
€
/
Brožovaná
89.62
€
Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. Abnormal status of this variable, both too high and too low, is sign of abnormal behavior in electronic systems. This title presents the feasibility to consider temperature as an observable for testing purposes.
Informácie o knihe
Celý názov
Thermal Testing of Integrated Circuits
Autor
Antonio Rubio
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Väzba
Kniha - Pevná
Dátum vydania
2002
Počet strán
204
EAN
9781402070761
ISBN
9781402070761
Libristo kód
08348631
Nakladateľstvo
Springer-Verlag New York Inc.
Váha
547
Rozmery
160 x 240 x 18
