Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €
Pošta 4.49 €
SPS 4.99 €
Kuriér GLS 3.99 €
Zberné miesto GLS 2.99 €
Packeta kurýr 4.99 €
Packeta 2.99 €
SPS Parcel Shop 2.99 €
Ako nakupovať
Pomoc
Doručenie
Pošta 4.49 €
SPS 4.99 €
Kuriér GLS 3.99 €
Zberné miesto GLS 2.99 €
Packeta kurýr 4.99 €
Packeta 2.99 €
SPS Parcel Shop 2.99 €
Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €
Nákupný poradca
Sme tu pre Vás!
02/210 210 99
Môj účet
Staňte sa súčasťou komunity milovníkov kníh z celého sveta a získajte hromadu výhod.
Založiť účet zdarma
▸
Prázdny :-(
0
Stress-Induced Phenomena in Metallization
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Pevná
The conference was on reliability related science in ULSI interconnect. Its main purpose was to disc...
Celý popis
Libristo kód: 01391065
?
457 b
457 b
182.48
€
50 % šanca
Prehľadáme celý svet
Kedy knihu dostanem?
30 dní na vrátenie tovaru
Mohlo by vás tiež zaujímať
The conference was on reliability related science in ULSI interconnect. Its main purpose was to discuss the stress induced phenomena in the LSI interconnect among academic researchers and industry engineers to establish academic science and to improve the reliability of ULSI chips. All papers were peer reviewed.
Informácie o knihe
Celý názov
Stress-Induced Phenomena in Metallization
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Väzba
Kniha - Pevná
Dátum vydania
2007
Počet strán
204
EAN
9780735404595
ISBN
0735404593
Libristo kód
01391065
Nakladateľstvo
Springer, Berlin
Rozmery
162 x 234
