Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €
Pošta 4.49 €
SPS 4.99 €
Kuriér GLS 3.99 €
Zberné miesto GLS 2.99 €
Packeta kurýr 4.99 €
Packeta 2.99 €
SPS Parcel Shop 2.99 €
Ako nakupovať
Pomoc
Doručenie
Pošta 4.49 €
SPS 4.99 €
Kuriér GLS 3.99 €
Zberné miesto GLS 2.99 €
Packeta kurýr 4.99 €
Packeta 2.99 €
SPS Parcel Shop 2.99 €
Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €
Nákupný poradca
Sme tu pre Vás!
02/210 210 99
Môj účet
Staňte sa súčasťou komunity milovníkov kníh z celého sveta a získajte hromadu výhod.
Založiť účet zdarma
▸
Prázdny :-(
0
Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Pevná
Dissertation Discovery Company and University of Florida are dedicated to making scholarly works mor...
Celý popis
Libristo kód: 22568506
?
227 b
227 b
90.02
€
Skladom u dodávateľa
Odosielame za 15-20 dní
30 dní na vrátenie tovaru
Dissertation Discovery Company and University of Florida are dedicated to making scholarly works more discoverable and accessible throughout the world. This dissertation, "Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics" by Steven V. Wa
Informácie o knihe
Celý názov
Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics
Autor
STEVEN WALSTRA
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Väzba
Kniha - Pevná
Dátum vydania
2019
Počet strán
152
EAN
9780530002330
ISBN
0530002337
Libristo kód
22568506
Nakladateľstvo
Dissertation Discovery Company
Váha
644
Rozmery
216 x 279 x 10
