Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €
Pošta 4.49 SPS 4.99 Kuriér GLS 3.99 Zberné miesto GLS 2.99 Packeta kurýr 4.99 Packeta 2.99 SPS Parcel Shop 2.99

Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics

Jazyk AngličtinaAngličtina
Kniha Brožovaná
Kniha Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics STEVEN WALSTRA
Libristo kód: 22568505
Nakladateľstvo Dissertation Discovery Company, máj 2019
Dissertation Discovery Company and University of Florida are dedicated to making scholarly works mor... Celý popis
? points 162 b
64.50
Skladom u dodávateľa Odosielame za 15-20 dní

30 dní na vrátenie tovaru


Mohlo by vás tiež zaujímať


TOP
The Hobbit Sketchbook Alan Lee / Pevná
common.buy 19.01
Camelot James Phillips / Brožovaná
common.buy 15.79
Framework for Innovation HARRINGTON / Pevná
common.buy 59.47
Home Harlan Coben / Audio
common.buy 88.55
Narrow Windows, Narrow Lives Sue Wilkes / Brožovaná
common.buy 22.83
Tyttö, joka unohti nimensä ELIISA Tiina Walsh / Brožovaná
common.buy 15.79

Dissertation Discovery Company and University of Florida are dedicated to making scholarly works more discoverable and accessible throughout the world. This dissertation, "Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics" by Steven V. Wa

Informácie o knihe

Celý názov Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics
Jazyk Angličtina
Väzba Kniha - Brožovaná
Dátum vydania 2019
Počet strán 152
EAN 9780530002323
ISBN 0530002329
Libristo kód 22568505
Váha 367
Rozmery 216 x 279 x 8
Darujte túto knihu ešte dnes
Je to jednoduché
1 Pridajte knihu do košíka a vyberte možnosť doručiť ako darček 2 Obratom Vám zašleme poukaz 3 Knihu zašleme na adresu obdarovaného

Prihlásenie

Prihláste sa k svojmu účtu. Ešte nemáte Libristo účet? Vytvorte si ho teraz!

 
povinné
povinné

Nemáte účet? Získajte výhody Libristo účtu!

Vďaka Libristo účtu budete mať všetko pod kontrolou.

Vytvoriť Libristo účet