Nehodí sa? Žiadny problém! U nás môžete do 30 dní vrátiť
S darčekovým poukazom nešliapnete vedľa. Obdarovaný si za darčekový poukaz môže vybrať čokoľvek z našej ponuky.
30 dní na vrátenie tovaru
Aims to present some results in the field of generation and annealing of radiation defects in MOS structures. This work reviews radiation defects produced by ion implantation or another high energy irradiation (in particular, gamma or MeV electrons).