Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €
Pošta 4.49 €
SPS 4.99 €
Kuriér GLS 3.99 €
Zberné miesto GLS 2.99 €
Packeta kurýr 4.99 €
Packeta 2.99 €
SPS Parcel Shop 2.99 €
Ako nakupovať
Pomoc
Doručenie
Pošta 4.49 €
SPS 4.99 €
Kuriér GLS 3.99 €
Zberné miesto GLS 2.99 €
Packeta kurýr 4.99 €
Packeta 2.99 €
SPS Parcel Shop 2.99 €
Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €
Nákupný poradca
Sme tu pre Vás!
02/210 210 99
Môj účet
Staňte sa súčasťou komunity milovníkov kníh z celého sveta a získajte hromadu výhod.
Založiť účet zdarma
▸
Prázdny :-(
0
Metal Oxide Semiconductor Physics and Technology
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Brožovaná
Explains the theoretical and experimental foundations of the measurement of the electrical propertie...
Celý popis
Libristo kód: 04890864
?
556 b
556 b
221.82
€
Skladom u dodávateľa
Odosielame za 14-18 dní
30 dní na vrátenie tovaru
Mohlo by vás tiež zaujímať
Explains the theoretical and experimental foundations of the measurement of the electrical properties of the MOS system and the technology for controlling its properties. Emphasizes the silica and the silica-silicon interface. Provides a critical assessment of the literature, corrects incomplete or incorrect theoretical formulations, and gives critical comparisons of measurement methods. Contains information needed to grow an oxide, make an MOS capacitor array, and fabricate an integrated circuit with optimal performance and stability.
Informácie o knihe
Celý názov
Metal Oxide Semiconductor Physics and Technology
Autor
J.R. Brews, E.H. Nicollian
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Väzba
Kniha - Brožovaná
Dátum vydania
2002
Počet strán
928
EAN
9780471430797
ISBN
047143079X
Libristo kód
04890864
Nakladateľstvo
John Wiley & Sons Inc
Váha
1338
Rozmery
414 x 238 x 57
