phone 02/210 210 99
LIBRISTO 0
Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €
Pošta 4.49 € SPS 4.99 € Kuriér GLS 3.99 € Zberné miesto GLS 2.99 € Packeta kurýr 4.99 € Packeta 2.99 € SPS Parcel Shop 2.99 €
phone Kontakt phoneAko nakupovať

Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

Jazyk AngličtinaAngličtina
Kniha Brožovaná
Kniha Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations Ronald G. Reifenberger
Libristo kód: 03611607
Nakladateľstvo World Scientific Publishing, november 2015
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements... Celý popis
? points 137 b
54.70 €
Skladom u dodávateľa Odosielame za 15-20 dní

30 dní na vrátenie tovaru

Mohlo by vás tiež zaujímať

TOP
Chanel Catwalk Patrick Mauries / Pevná
common.buy 69.74 €
Futhark Christopher Mcintosh / Brožovaná
common.buy 18.26 €
Vision of the Anointed Thomas Sowell / Brožovaná
common.buy 16.04 €
Size and Measurement Ages 3-5 Collins Easy Learning / Brožovaná
common.buy 5.44 €
Triage X, Vol. 1 Shouji Sato / Brožovaná
common.buy 11.40 €
Bergen-Belsen 1945 Bowen Hargrave / Brožovaná
common.buy 21.49 €
Byť sama ... Lucia Kollárová / Brožovaná
common.buy 4.94 €
Island 1 : 300 000. Hochlandkarte / Mapa
common.buy 21.59 €
Schildkröten Manfred Rogner / Pevná
common.buy 18.06 €
Spectacular Nail Art Larit Levy / Brožovaná
common.buy 11.19 €
Robert Bresson Joseph Cunneen / Brožovaná
common.buy 53.39 €
Aesthet Hermann Harry Schmitz / Brožovaná
common.buy 19.07 €
Introduction to Twentieth Century Italian Literature Robert Gordon / Brožovaná
common.buy 43.80 €
Economic Impact of Leasing David G. Mayes / Brožovaná
common.buy 55.91 €
Hacktivist Marcus To / Pevná
common.buy 25.43 €
Practical Manual of House-Painting, Graining, Marbling and Sign Writing Ellis. A Davidson / Brožovaná
common.buy 41.68 €

The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution. The intelligent use of this instrument requires knowledge from many distinct fields of study. These lecture notes aim to provide advanced undergraduates and beginning graduates in all fields of science and engineering with the required knowledge to sensibly use an AFM. Relevant background material is often reviewed in depth and summarized in a pedagogical, self-paced style to provide a fundamental understanding of the scientific principles underlying the use and operation of an AFM.

Informácie o knihe

Celý názov Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
Autor Ronald G. Reifenberger
Jazyk Angličtina
Väzba Kniha - Brožovaná
Dátum vydania 2015
Počet strán 340
EAN 9789814630351
ISBN 9789814630351
Libristo kód 03611607
Nakladateľstvo World Scientific Publishing
Váha 492
Rozmery 229 x 155 x 19

Kategórie

Matematika a veda > Veda: všeobecné témy > Nanovedy
Technológie, strojárstvo, poľnohospodárstvo > Technológie: všeobecné témy > Nanotechnológie
Darujte túto knihu ešte dnes
Je to jednoduché
1 Pridajte knihu do košíka a vyberte možnosť doručiť ako darček 2 Obratom Vám zašleme poukaz 3 Knihu zašleme na adresu obdarovaného

Prihlásenie

Prihláste sa k svojmu účtu. Ešte nemáte Libristo účet? Vytvorte si ho teraz!

 
povinné
povinné
Zabudnuté heslo

Nemáte účet? Získajte výhody Libristo účtu!

Vďaka Libristo účtu budete mať všetko pod kontrolou.

Vytvoriť Libristo účet