Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €
Pošta 4.49 SPS 4.99 Kuriér GLS 3.99 Zberné miesto GLS 2.99 Packeta kurýr 4.99 Packeta 2.99 SPS Parcel Shop 2.99

Vážení zákazníci, z dôvodu štátneho sviatku nie je dnes zákaznícka podpora k dispozícii. Vašim požiadavkám sa budeme venovať nasledujúci pracovný deň. Ďakujeme za pochopenie.

CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

Jazyk AngličtinaAngličtina
Kniha Brožovaná
Kniha CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 Alexander A. Demkov
Libristo kód: 02439020
Nakladateľstvo Cambridge University Press, jún 2014
To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into convent... Celý popis
? points 87 b
34.61
Skladom u dodávateľa Odosielame za 15-20 dní

30 dní na vrátenie tovaru


Mohlo by vás tiež zaujímať


Creative Thinking Ages 6-8 Ann Baker / Brožovaná
common.buy 22.63
Red Lily - Complete Anatole France / Brožovaná
common.buy 29.17
Séminaire de Probabilités X P.-A. Meyer / Brožovaná
common.buy 62.69
Albert Hall Lenore Coltheart / Brožovaná
common.buy 45.07
Century 21 Chris Bentley / Pevná
common.buy 28.67
Die Arterio-Ven sen Anastomosen Max Clara / Brožovaná
common.buy 63.69
Analysis and Modeling of Faces and Gestures S. Kevin Zhou / Brožovaná
common.buy 58.56
Auf Der Suche Nach Der Bilanzwahrheit Carl Zimmerer / Brožovaná
common.buy 63.69
Last Cowboys John Branch / Pevná
common.buy 21.73
Controversies in Innocence Cases in America Sarah Lucy Cooper / Pevná
common.buy 196.73
Heresy and Obedience in Tridentine Italy Dermot Fenlon / Brožovaná
common.buy 51.72
30 Objects 30 Insights Rachel Gotlieb / Brožovaná
common.buy 25.25

To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.

Informácie o knihe

Celý názov CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Jazyk Angličtina
Väzba Kniha - Brožovaná
Dátum vydania 2014
Počet strán 194
EAN 9781107408326
ISBN 1107408326
Libristo kód 02439020
Nakladateľstvo Cambridge University Press
Váha 27
Rozmery 152 x 229 x 10
Darujte túto knihu ešte dnes
Je to jednoduché
1 Pridajte knihu do košíka a vyberte možnosť doručiť ako darček 2 Obratom Vám zašleme poukaz 3 Knihu zašleme na adresu obdarovaného

Prihlásenie

Prihláste sa k svojmu účtu. Ešte nemáte Libristo účet? Vytvorte si ho teraz!

 
povinné
povinné

Nemáte účet? Získajte výhody Libristo účtu!

Vďaka Libristo účtu budete mať všetko pod kontrolou.

Vytvoriť Libristo účet