phone 02/210 210 99
LIBRISTO 0
Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €
Pošta 4.49 € SPS 4.99 € Kuriér GLS 3.99 € Zberné miesto GLS 2.99 € Packeta kurýr 4.99 € Packeta 2.99 € SPS Parcel Shop 2.99 €
phone Kontakt phoneAko nakupovať

CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

Jazyk AngličtinaAngličtina
Kniha Pevná
Kniha CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 Alexander A. DemkovBill TaylorH. Rusty HarrisJeffery W. Butterbaugh
Libristo kód: 02060485
Nakladateľstvo Materials Research Society, november 2009
To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into convent... Celý popis
? points 304 b
120.82 €
Skladom u dodávateľa Odosielame za 15-20 dní

30 dní na vrátenie tovaru

Mohlo by vás tiež zaujímať

Jon Burgerman's Burgerworld Jon Burgerman / Brožovaná
common.buy 24.30 €
Behind the Public Veil Lewis V. Baldwin / Brožovaná
common.buy 22.99 €
Neues Testament Lukas Bormann / Pevná
common.buy 36.55 €
Multicultural Japan Donald DenoonMark HudsonGavan McCormackTessa Morris-Suzuki / Brožovaná
common.buy 51.61 €
Mini-Grids for Rural Electrification of Developing Countries Subhes Bhattacharyya / Pevná
common.buy 146.13 €
In Pursuit of the Good Life Jocelyn Lim Chua / Brožovaná
common.buy 36.15 €
Planning Against the Political Jonathan Metzger / Brožovaná
common.buy 73.01 €
Molecular Genetics of Colorectal Neoplasia James M. Church / Brožovaná
common.buy 115.19 €

To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.

Informácie o knihe

Celý názov CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Autor Alexander A. DemkovBill TaylorH. Rusty HarrisJeffery W. Butterbaugh
Jazyk Angličtina
Väzba Kniha - Pevná
Dátum vydania 2009
Počet strán 194
EAN 9781605111285
ISBN 1605111287
Libristo kód 02060485
Nakladateľstvo Materials Research Society
Váha 430
Rozmery 160 x 236 x 14

Kategórie

Technológie, strojárstvo, poľnohospodárstvo > Strojárstvo a materiály > Výrobné inžinierstvo > Priemyselná kontrola kvality
Technológie, strojárstvo, poľnohospodárstvo > Strojárstvo a materiály > Materiológia
Darujte túto knihu ešte dnes
Je to jednoduché
1 Pridajte knihu do košíka a vyberte možnosť doručiť ako darček 2 Obratom Vám zašleme poukaz 3 Knihu zašleme na adresu obdarovaného

Prihlásenie

Prihláste sa k svojmu účtu. Ešte nemáte Libristo účet? Vytvorte si ho teraz!

 
povinné
povinné
Zabudnuté heslo

Nemáte účet? Získajte výhody Libristo účtu!

Vďaka Libristo účtu budete mať všetko pod kontrolou.

Vytvoriť Libristo účet