Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €
Pošta 4.49 SPS 4.99 Kuriér GLS 3.99 Zberné miesto GLS 2.99 Packeta kurýr 4.99 Packeta 2.99 SPS Parcel Shop 2.99

Characterization of Stress in Gan-On-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy

Jazyk AngličtinaAngličtina
Kniha Brožovaná
Kniha Characterization of Stress in Gan-On-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy Francisco E Parada
Libristo kód: 08247026
Nakladateľstvo Biblioscholar, november 2012
Micro-Raman ( Raman) spectroscopy is an e cient, non-destructive techniquewidely used to determine t... Celý popis
? points 150 b
59.77
Skladom u dodávateľa Odosielame za 15-20 dní

30 dní na vrátenie tovaru


Mohlo by vás tiež zaujímať


Temple Alfred Edersheim / Pevná
common.buy 21.43
Auxetic Materials and Structures Teik-Cheng Lim / Pevná
common.buy 239.91
Accounting for Affection Caroline Castiglione / Pevná
common.buy 109.99
Estranged Family of Abraham's God J Grathmore III Stratus / Pevná
common.buy 25.75
Beyond the Hole in the Universe Kurt Kasner / Pevná
common.buy 34.71
Campbells. a Novel. [By Thomas Solly.] Thomas Solly / Brožovaná
common.buy 24.65
Dom Gabriel Sortis Guy Oury / Brožovaná
common.buy 34.71
Caract risation Et Inhibition Des -Lactamases Par Les Plantes Joseph Gangoue Pieboji / Brožovaná
common.buy 73.05
Colthorpe Cousins, and Other Stories. Annie Thomas / Brožovaná
common.buy 22.33
Acceptance and Commitment Therapy Frank W. Bond / Pevná
common.buy 153.06
Digital Vernacular JAMES STEVENS / Pevná
common.buy 269.29
Stones of Creation R L Freeman / Brožovaná
common.buy 16.19
Archaeology of People Alisdair Whittle / Pevná
common.buy 200.05
Air Mobility David G Estep / Brožovaná
common.buy 59.77

Micro-Raman ( Raman) spectroscopy is an e cient, non-destructive techniquewidely used to determine the quality of semiconductor materials and microelectrome-chanical systems. This work characterizes the stress distribution in wurtzite gal-lium nitride grown on c-plane sapphire substrates by molecular beam epitaxy. Thiswide bandgap semiconductor material is being considered by the Air Force ResearchLaboratory for the fabrication of shock-hardened MEMS accelerometers.

Informácie o knihe

Celý názov Characterization of Stress in Gan-On-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy
Jazyk Angličtina
Väzba Kniha - Brožovaná
Dátum vydania 2012
Počet strán 100
EAN 9781288368518
ISBN 9781288368518
Libristo kód 08247026
Nakladateľstvo Biblioscholar
Váha 195
Rozmery 189 x 246 x 5
Darujte túto knihu ešte dnes
Je to jednoduché
1 Pridajte knihu do košíka a vyberte možnosť doručiť ako darček 2 Obratom Vám zašleme poukaz 3 Knihu zašleme na adresu obdarovaného

Prihlásenie

Prihláste sa k svojmu účtu. Ešte nemáte Libristo účet? Vytvorte si ho teraz!

 
povinné
povinné

Nemáte účet? Získajte výhody Libristo účtu!

Vďaka Libristo účtu budete mať všetko pod kontrolou.

Vytvoriť Libristo účet