Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €
Pošta 4.49 SPS 4.99 Kuriér GLS 3.99 Zberné miesto GLS 2.99 Packeta kurýr 4.99 Packeta 2.99 SPS Parcel Shop 2.99

Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs

Jazyk AngličtinaAngličtina
Kniha Brožovaná
Kniha Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs Sleiman Bou-Sleiman
Libristo kód: 01424549
Nakladateľstvo Springer-Verlag New York Inc., september 2011
This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-... Celý popis
? points 154 b
61.44
Skladom u dodávateľa v malom množstve Odosielame za 13-16 dní

30 dní na vrátenie tovaru


Mohlo by vás tiež zaujímať


Terror und Performance Jürgen Alfred Eder / Brožovaná
common.buy 39.34
Capital Moves Jefferson Cowie / Brožovaná
common.buy 27.13
Molecular Cardiology Zhongjie Sun / Pevná
common.buy 186.25

This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.

Darujte túto knihu ešte dnes
Je to jednoduché
1 Pridajte knihu do košíka a vyberte možnosť doručiť ako darček 2 Obratom Vám zašleme poukaz 3 Knihu zašleme na adresu obdarovaného

Prihlásenie

Prihláste sa k svojmu účtu. Ešte nemáte Libristo účet? Vytvorte si ho teraz!

 
povinné
povinné

Nemáte účet? Získajte výhody Libristo účtu!

Vďaka Libristo účtu budete mať všetko pod kontrolou.

Vytvoriť Libristo účet