Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €
Pošta 4.49 SPS 4.99 Kuriér GLS 3.99 Zberné miesto GLS 2.99 Packeta kurýr 4.99 Packeta 2.99 SPS Parcel Shop 2.99

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

Kniha Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2 Samuel H. Cohen
Libristo kód: 01378792
Nakladateľstvo Springer Science+Business Media, apríl 1997
Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994
? points 467 b
186.32
Skladom u dodávateľa v malom množstve Odosielame za 13-16 dní

30 dní na vrátenie tovaru


Mohlo by vás tiež zaujímať


Doktore, bacha na ženský! Patrick Taylor / Pevná
common.buy 8.87
China's Food and Agriculture / Brožovaná
common.buy 19.37
African American Anti-Colonial Thought 1917-1937 BERGIN CATHY / Brožovaná
common.buy 48.94
Fernweh Monique H Van Den Dries / Brožovaná
common.buy 24.11
Geological Structures and Moving Plates R.G. Park / Brožovaná
common.buy 153.72

Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994

Informácie o knihe

Celý názov Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Jazyk Angličtina
Väzba Kniha - Pevná
Dátum vydania 1997
Počet strán 250
EAN 9780306455964
ISBN 030645596X
Libristo kód 01378792
Váha 1610
Rozmery 178 x 254 x 16
Darujte túto knihu ešte dnes
Je to jednoduché
1 Pridajte knihu do košíka a vyberte možnosť doručiť ako darček 2 Obratom Vám zašleme poukaz 3 Knihu zašleme na adresu obdarovaného

Prihlásenie

Prihláste sa k svojmu účtu. Ešte nemáte Libristo účet? Vytvorte si ho teraz!

 
povinné
povinné

Nemáte účet? Získajte výhody Libristo účtu!

Vďaka Libristo účtu budete mať všetko pod kontrolou.

Vytvoriť Libristo účet