16 105 015 könyv 175 nyelven
Nem vált be? Semmi gond! Nálunk 30 napon belül visszaküldheti
Ajándékutalvánnyal nem nyúlhat mellé. A megajándékozott az ajándékutalványért bármit választhat kínálatunkból.
30 nap a termék visszaküldésére
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.